Pat
J-GLOBAL ID:200903076923268610
検査装置、信号処理装置及びプログラム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7):
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 西 和哉
, 村山 靖彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002186437
Publication number (International publication number):2004028826
Application date: Jun. 26, 2002
Publication date: Jan. 29, 2004
Summary:
【課題】外観形状が複雑な検査対象物の外観検査等を簡単な構成で実現する。【解決手段】5個の信号発生デバイスとしてのカメラ5a〜5eは、検査対象物としての検査対象物としての複雑形状物を撮像する。各カメラで撮像されたビデオ信号は、各カメラ毎に4個を1組として5組み設けられた合計20個の信号処理部(画像処理装置)70で処理される。その場合、動作指示部22により各組におけるn個の信号処理部70を分配器21を介して1個ずつ順次指示して環状的に動作させる。その指示された5個の信号処理部70から得られる5つの処理結果情報を結果総括部25で総合的に処理して当該検査対象物についての総括結果情報を出力する。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
検査対象物を検査し検査信号を発生するm個の信号発生デバイスと、
各信号発生デバイスからの検査信号を処理するようになされ、各信号発生デバイス毎にn個を1組としてm組み設けられたm×n個の信号処理手段と、
各組におけるn個の信号処理手段を1個ずつ順次環状的に指示して動作させる動作指示手段と、
前記動作指示手段で指示されたm個の信号処理手段から得られるm個の処理結果情報を総合的に処理して当該検査対象についての総括結果情報を出力する総括手段とを設けたことを特徴とする検査装置。
IPC (3):
G01N21/88
, G01N21/85
, H04N7/18
FI (3):
G01N21/88 J
, G01N21/85 Z
, H04N7/18 B
F-Term (25):
2G051AA07
, 2G051AB02
, 2G051AB03
, 2G051AB08
, 2G051BC02
, 2G051CA04
, 2G051CA06
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051DA06
, 2G051DA13
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA19
, 2G051EA20
, 2G051ED22
, 5C054AA01
, 5C054AA05
, 5C054CA04
, 5C054CC02
, 5C054CF01
, 5C054FC01
, 5C054FC12
, 5C054HA01
, 5C054HA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開平4-364453
-
画像処理による自動検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-154703
Applicant:株式会社キリンテクノシステム
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パターン検査方法及びパターン検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-171293
Applicant:日本電気株式会社
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