Pat
J-GLOBAL ID：200903076967857450

内視鏡用測長具

Inventor：
木戸岡 智志

About 木戸岡 智志


Applicant, Patent owner：
ペンタックス株式会社

About ペンタックス株式会社


Agent (1)： 三井 和彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001307002
Publication number (International publication number)：2003111722
Application date： Oct. 03, 2001
Publication date： Apr. 15, 2003
Summary：
【要約】【課題】測定対象である患部等の縦横の大きさを正確かつ容易に測定することができる内視鏡用測長具を提供すること。【解決手段】可撓性シース1の先端付近に設けられた物差し体4が、可撓性シース1内に進退自在に挿通配置された操作ワイヤ2を進退操作することにより側方に折れ曲がるように構成された内視鏡用測長具において、物差し体4が、可撓性シース1から放射状に略直角程度相違する方向に折れ曲がる二本の物差し体4によって形成されている。
Claim (excerpt)：
可撓性シースの先端付近に設けられた物差し体が、上記可撓性シース内に進退自在に挿通配置された操作ワイヤを進退操作することにより側方に折れ曲がるように構成された内視鏡用測長具において、上記物差し体が、上記可撓性シースから放射状に略直角程度相違する方向に折れ曲がる二本の物差し体によって形成されていることを特徴とする内視鏡用測長具。
IPC (2)：
A61B 1/00 334 ,  A61B 1/00 300
FI (2)：
A61B 1/00 334 D ,  A61B 1/00 300 E
F-Term (6)：
4C061AA00 ,  4C061BB00 ,  4C061CC00 ,  4C061DD03 ,  4C061GG15 ,  4C061HH52
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
  • 内視鏡用測長具
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-241734   Applicant：土井譲
  • 内視鏡用測長具
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-075464   Applicant：旭光学工業株式会社

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM