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J-GLOBAL ID:200903077001151760

放射温度計

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石田 長七 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992187249
Publication number (International publication number):1994034448
Application date: Jul. 15, 1992
Publication date: Feb. 08, 1994
Summary:
【要約】【目的】 室温を測定するために別の手段を設けることなく、簡易な構成により高性能の放射温度計を提供する。【構成】 半導体基板1の片面に、赤外線検出部2および感温部3を備え、半導体基板1の他方の片面では、赤外線検出部2の下部に対応する個所において、半導体基板1をエッチングにより除去して凹欠部kを形成する。
Claim (excerpt):
半導体基板の片面に、赤外線検出部および感温部を備えており、また、その半導体基板の他方の片面では、前記赤外線検出部の下部に対応する個所において、前記半導体基板をエッチングにより除去して凹欠部を形成していることを特徴とする放射温度計。
IPC (2):
G01J 5/02 ,  G01J 1/02

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