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J-GLOBAL ID:200903077031695650

イオン化分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995111815
Publication number (International publication number):1996304343
Application date: May. 10, 1995
Publication date: Nov. 22, 1996
Summary:
【要約】【目的】 試料のイオンをイオン検出部に導入する効率を増大することにより、試料のイオン電流に対する感度を向上させるイオン化分析装置を提供する。【構成】 このイオン化分析装置は、試料供給部20とイオン化部30との間に設置された隔壁21に形成されて試料供給部20及びイオン化部30を連通する貫通孔24に近接して設置されたプローブ33と、貫通孔24に対してプローブ33の少なくとも先端部35を変位させる移動手段31と、プローブ33に付着した試料溶液の液滴から試料のイオンをイオン化部30に放出させてイオン検出部60に導入させるイオン放出手段71とを備える。ここで、プローブ33の先端部35は、貫通孔24の開口径よりも大きなサイズ形状を有し、移動手段31によって貫通孔24に接合して配置された際に貫通孔24を封止する。
Claim (excerpt):
試料溶液に含まれた試料のイオンを気中または真空中に放出することにより、当該試料のイオンを検出するイオン化分析装置において、反応容器内に形成されて前記試料溶液を供給される試料供給部と、この試料供給部に隔壁を介して形成されて前記試料溶液の液滴を導入されるイオン化部と、前記隔壁に形成されて前記試料供給部及び前記イオン化部を連通する貫通孔に近接して設置されたプローブと、前記貫通孔に対して前記プローブの少なくとも先端部を変位させる移動手段と、前記プローブに付着した前記試料溶液の液滴から前記試料のイオンを前記イオン化部に放出させるイオン放出手段と、前記イオン化部と連通して形成されて前記イオン化部から導入された前記試料のイオンを検出するイオン検出部とを備え、前記プローブの先端部は、前記貫通孔の開口径よりも大きなサイズ形状を有し、前記移動手段によって当該貫通孔に接合して配置された際に当該貫通孔を封止することを特徴とするイオン化分析装置。
IPC (3):
G01N 27/62 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10
FI (4):
G01N 27/62 Z ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10

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