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J-GLOBAL ID：200903077080605500
原子間力顕微鏡を用いた表面官能基推定方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997010565
Publication number (International publication number)：1998206438
Application date： Jan. 23, 1997
Publication date： Aug. 07, 1998
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、ポリマー、塗膜等の高分子材料表面の官能基を推定する方法に関し、特に被測定物の液中における原子間力顕微鏡観察によって溶媒成分の極性変化を測定し、この測定結果と事前に求めておいた関係マップとを対比することによって表面官能基を推定する方法を提供する。【解決手段】 原子間力顕微鏡を用いた液中観察による表面官能基を推定する方法において、複数の極性の異なる溶媒の混合比を連続的に変化させながら混合・供給する工程、前記溶媒からなる液中で被測定物の表面変化を原子間力顕微鏡で観察する工程、前記観察結果を予め求めておいた特定溶媒と被測定物の表面変化との関係を対比することにより被測定物表面の官能基を推定する工程を有することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
原子間力顕微鏡を用いた液中観察による被測定物の表面官能基を推定する方法において、複数の極性の異なる溶媒の混合比を連続的に変化させながら混合・供給する工程、前記溶媒からなる液中で被測定物の表面変化を原子間力顕微鏡で観察する工程、前記観察結果を予め求めておいた特定溶媒と被測定物の表面変化との関係を対比することにより被測定物表面の官能基を推定する工程を有することを特徴とする原子間力顕微鏡を用いた表面官能基推定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 37/00 F
, G01B 21/30 Z
