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J-GLOBAL ID：200903077144224890
変調精度測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
草野 卓 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996171057
Publication number (International publication number)：1998023086
Application date： Jul. 01, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：
【要約】【課題】 演算時間を短縮する。【解決手段】 22からのサンプリングレートR(=16Rs ;Rs はシンボルレート)のデジタル化された直交検波出力がFFTされ、そのピーク電力周波数を求め、規格より周波数誤差Ω01を求め(24)、そのΩ01を前記検波出力に対し補正をし(25,26)その補正出力をRが4Rs に間引し(27)、フィルタ28を通して評価部29に入力し、その入力サンプルデータの振幅の分散が最小となるクロック位相を求め、かつ信号点の角度ばらつきから周波数誤差Ω02を求め、フィルタ27の出力に対しΩ02の補正を行い(31,32)その補正出力に対し、クロック遅延を補正し、かつRをRs とし(34)、この出力で理想信号を作り、従来と同様に変調精度パラメータを演算する(37,41)。
Claim (excerpt)：
デジタルデータで直交変調された変調波信号をAD変換し、そのAD変換された信号を直交検波し、この直交検波出力から変調データを復調し、その復調データから理想変調信号を発生し、この理想変調信号と受信変調信号とから変調信号の変調精度パラメータを求める変調精度測定装置において、上記直交検波出力を、測定に必要とするほぼ最小限のサンプリングレートに変換するデシメーション手段と、そのデシメーション手段の出力から分散法によりクロック遅延量を検出するクロック遅延評価手段と、上記検出したクロック遅延量を上記直交検波出力に対して補正して上記復調データを得るための信号を得る遅延補正手段とを具備することを特徴とする変調精度測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
H04L 27/18 A
, H04L 27/00 A
