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J-GLOBAL ID：200903077172112607
光路解析方法及び光路解析システム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中井 潤
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002163723
Publication number (International publication number)：2004012207
Application date： Jun. 05, 2002
Publication date： Jan. 15, 2004
Summary：
【課題】反射面及び鏡等の光部品の方向や位置を容易に設定することができ、反射面として必要な面積、及び反射面間に存在する複数の光線間の干渉を容易に求めること等が可能な光路解析方法及びシステムを提供する。【解決手段】光路の始点位置、終点位置、及び少なくとも1つの光線反射中心点を指定して記憶し、光路の始点位置、終点位置、光線反射中心点のうちの2つの点を結ぶ光路要素を記憶し、各々の光線反射中心点を原点として各々独立した座標を設定し、各々独立した座標及び光路要素を接続して得られる光路を用いて光路解析を行う。各々独立した座標は、各々の光線反射中心点を原点とし、光線反射中心点を挟む2つの光路要素を含む面を1つの座標面とし、2つの光路要素がなす角の2等分線に対して垂直な面を反射面としてもう1つの座標面とする直交座標とすることができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
光路の始点位置、終点位置、及び少なくとも1つの光線反射中心点を指定して記憶し、
前記光路の始点位置、終点位置、光線反射中心点のうちの2つの点を結ぶ光路要素を記憶し、
各々の光線反射中心点を原点として各々独立した座標を設定し、
該各々独立した座標及び前記光路要素を接続して得られる光路を用いて光路解析を行うことを特徴とする光路解析方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01M11/00 Z
, G06F17/50 680A
