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J-GLOBAL ID：200903077186120114

固体撮像素子の欠陥検出装置及びこれを用いた欠陥補正装置

Inventor： 志村 雅之
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 船橋 國則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993124932
Publication number (International publication number)：1994315112
Application date： Apr. 28, 1993
Publication date： Nov. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】 限られた記憶容量のメモリを有効に用いて画面全体に亘って効率的に欠陥検出を行うことが可能な固体撮像素子の欠陥検出装置及びこれを用いた欠陥補正装置を提供する。【構成】 欠陥検査を行う際に、CCD固体撮像素子3の撮像出力レベルをコンパレータ21にて所定の検出レベルと比較することによって欠陥画素を検出し、この検出した欠陥画素数をカウンタ25でカウントし、その検出数がRAM23の記憶許容数を越えたとき、検出レベル設定回路26にてコンパレータ21の検出レベルをそれまでよりも高く設定することによって欠陥検出感度を下げ、再検査を欠陥画素数が許容内に収まるまで繰り返す。

Claim (excerpt)：

固体撮像素子の撮像出力レベルを所定の検出レベルと比較することによって欠陥画素を検出するコンパレータと、前記コンパレータの検出出力に基づいて欠陥画素の数を検出する欠陥数検出手段と、前記欠陥数検出手段による検出数が所定数を越えたとき欠陥検出感度をそれまでよりも下げるように制御する制御手段とを備えたことを特徴とする固体撮像素子の欠陥検出装置。

IPC (2)：

H04N 5/335 ,  H04N 17/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-227185
  
• 固体撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-009816   Applicant：株式会社日立製作所