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J-GLOBAL ID：200903077310332230
超音波診断装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小野 由己男 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991195837
Publication number (International publication number)：1993015533
Application date： Jul. 09, 1991
Publication date： Jan. 26, 1993
Summary：
【要約】【目的】 受波ダイナミックフォーカス方式において、正確な遅延量を設定でき、しかも高分解度を可能とする。【構成】 この装置は、第1カウンタ31と、第1カウンタ31のボロー信号で動作する第2カウンタ32と、第2カウンタ32のボロー信号で動作する第3カウンタ33とを有する位相クロック発生回路16を備えている。第3カウンタ33のカウント値が遅延量格納メモリ30のアドレス情報として出力され、このメモリデータが第1及び第2カウンタのプリセット値として出力される。
Claim (excerpt)：
フェーズドアレイ方式の複数の振動子から得られた反射エコーをディジタル信号に変換し、この反射エコーデータを記憶手段に記憶するとともにその読み出しタイミングを調整し、各反射エコーデータを整相するダイナミックフォーカス方式の超音波診断装置において、1本の超音波ビームに対してダイナミックにフォーカス位置を切り換えるための遅延制御データを格納する遅延制御データ格納手段と、前記遅延制御データ格納手段からのデータに基づいて計数を行い、各振動子からの反射エコーデータの前記記憶手段からの読み出しタイミングを制御するための読み出しクロック信号を発生する第1計数手段と、前記遅延制御データ格納手段からのデータ及び第1計数手段の計数結果に基づいて計数を行い、フォーカス位置を制御するためのフォーカス位置変更信号を発生する第2計数手段と、前記第2計数手段の計数結果に基づいて計数を行い、前記遅延制御データ格納手段から出力すべきデータのアドレスを制御するためのアドレス制御信号を発生する第3計数手段と、を備えた超音波診断装置。
IPC (2)：
A61B 8/00
, G01N 29/26 503
