Pat
J-GLOBAL ID:200903077323428300

組織の偏光散乱分光法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小田島 平吉
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000594380
Publication number (International publication number):2002535027
Application date: Jan. 25, 2000
Publication date: Oct. 22, 2002
Summary:
【要約】本発明は組織の特性を測定するための偏光の使用に関する。特に、この様な組織からの後方散乱光の偏波が保存される一方下にある組織からの拡散散乱光の寄与が除去され得た時、偏光は組織内の形成異常を検出するために使用出来る。光を配送、収集するための光フアイバーシステムが人体内組織を測定するため使用され得る。
Claim (excerpt):
偏光を分析する方法に於いて、 関心のある領域から返って来る偏光を検出する過程と、そして 該検出された偏光を分析することにより該関心のある領域の特性を決定する過程とを具備することを特徴とする偏光を分析する方法。
IPC (8):
A61B 1/00 300 ,  A61B 10/00 ,  C12Q 1/02 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 33/48 ,  G01N 33/483
FI (9):
A61B 1/00 300 D ,  A61B 10/00 E ,  A61B 10/00 T ,  C12Q 1/02 ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 33/48 M ,  G01N 33/483 C
F-Term (46):
2G045AA26 ,  2G045CB01 ,  2G045FA15 ,  2G045GC11 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059CC18 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059GG00 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM10 ,  4B063QA19 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ12 ,  4B063QS39 ,  4B063QX10 ,  4C061AA02 ,  4C061AA05 ,  4C061AA13 ,  4C061AA15 ,  4C061BB02 ,  4C061CC04 ,  4C061DD00 ,  4C061FF46 ,  4C061HH51 ,  4C061NN01 ,  4C061QQ01 ,  4C061QQ09 ,  4C061RR13 ,  4C061WW20

Return to Previous Page