誘電泳動を用いて粒子をテストする装置および方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：社本一夫 (外5名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998508598
Publication number (International publication number)：2001500252
Application date： Jul. 28, 1997
Publication date： Jan. 09, 2001
Summary：

【要約】粒子の挙動が、異なる周波数の誘電泳動電界のスペクトルを生成するように、電極列が配置されるチャンバ内の粒子の懸濁液を配置することによりテストされる。異なる周波数における粒子の挙動を、便利かつ迅速な方法で検査することができる。指定された粒子タイプの特性を特徴付けること、あるいは流体中の粒子の集団を分析することを含む種々の目的のために、装置および方法を用いることができる。テスト・スペクトルを他の方向に拡張するように、粒子を異なる流体パラメータに露呈することも可能である。

Claim (excerpt)：

流体中に存在する粒子をテストする装置であって、チャンバと、該チャンバ内の離間された一連の電極と、異なる周波数の電気的入力を各電極へ印加して電極に隣接する各領域において異なる誘電泳動電界を生成する手段と、前記各領域における粒子の存在を検出する手段とを備える装置。

IPC (4)：

G01N 27/447 , B03C 5/00 , G01N 33/483 , C12M 1/00

FI (4)：

G01N 27/26 331 A , B03C 5/00 Z , G01N 33/483 F , C12M 1/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特表平6-509745
特開平3-096848
特表平7-505717

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