Pat

J-GLOBAL ID：200903077415774905

放射性汚染物質用非破壊検査装置と検査方法

Inventor： 後藤 哲夫 ,  上田 裕之
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 猪股 祥晃
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995024014
Publication number (International publication number)：1996220029
Application date： Feb. 13, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：

【要約】【目的】機器構造材の劣化検査を照射あるいは放射線汚染により発生するγ線から非破壊で被曝が少なく高精度で判定する放射性汚染物質用非破壊検査装置と検査方法を提供する。【構成】請求項1記載の発明に係る放射性汚染物質用非破壊検査装置は、陽電子線源から発生する陽電子を被検体に照射して被検体内の電子との反応で発生する0.511MeV消滅γ線の光電子ピークの形状変化を検出器で測定する非破壊検査装置において、Ge検出器13の前面に被検体7中からの放射線束数を制限する遮蔽体付きコリメータ16を設けると共に、陽電子線源1を遮蔽体付きコリメータ16の開口部視野外に設置し、前記陽電子線源1の照射領域をGe検出器13の視野内に納めるようしたことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

陽電子線源から発生する陽電子を被検体に照射して被検体内の電子との反応で発生する0.511MeV消滅γ線の光電子ピークの形状変化をGe検出器で測定する非破壊検査装置において、前記Ge検出器の前面に被検体中からの放射線束数を制限する遮蔽体付きコリメータを設けると共に陽電子線源を遮蔽体付きコリメータの開口部視野外に設置して、前記陽電子線源の照射領域をGe検出器の視野内に納めるようしたことを特徴とする放射性汚染物質用非破壊検査装置。

IPC (4)：

G01N 23/225 ,  G01T 1/24 ,  G01T 7/00 ,  G21C 17/003

FI (5)：

G01N 23/225 ,  G01T 1/24 ,  G01T 7/00 B ,  G01T 7/00 C ,  G21C 17/00 E