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J-GLOBAL ID：200903077426233140

光ケーブルの検査装置

Inventor： 渡邉 勤 ,  高島 宏 ,  須貝 仁之
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991224320
Publication number (International publication number)：1993060647
Application date： Sep. 04, 1991
Publication date： Mar. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、測定値の再現性が高く、簡単に光ケーブルを検査できる検査装置を提供することを目的とする。【構成】 本発明は光コネクタ5a及び光ファイバ心線5bを着脱自在に位置決めすることにより光ケーブル5の両端を位置決めする一対の位置決め手段11、16、12、18と、位置決め手段11、16により位置決めされた光コネクタ5aの結合端面に検査光を入射する入射手段13と、位置決め手段12、18により位置決めされた光ファイバ心線5bの結合端面から取り出された出射光のパワーレベルを測定する測定手段14とを備える。

Claim (excerpt)：

光コネクタ又は光ファイバ心線が一端又は他端に接続された光ケーブルの検査装置において、光コネクタ又は/及び光ファイバ心線を着脱自在に位置決めすることにより前記光ケーブルの両端を位置決めする一対の位置決め手段と、前記位置決め手段の一方により位置決めされた光コネクタ又は/及び光ファイバ心線の結合端面に検査光を入射する入射手段と、前記位置決め手段の他方により位置決めされた光コネクタ又は/及び光ファイバ心線の結合端面から取り出された出射光のパワーレベルを測定する測定手段とを備える光ケーブルの検査装置。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  G02B 6/00 ,  G02B 6/40

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-125599
  
• 特開昭63-241329
  
• 特開昭63-233346
  
• 特開昭61-258138