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J-GLOBAL ID：200903077568856200

イオントラップ式質量分析システム及び方法

Inventor： マーク エリック ビアー ,  ジョン イー ピー サイカ
Applicant, Patent owner： フィニガン コーポレイション
Agent (1)： 中村 稔 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995124918
Publication number (International publication number)：1995326321
Application date： May. 24, 1995
Publication date： Dec. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】 拡大したイオン占有体積を有し、従って、電荷密度を増加せずに捕獲イオンの数を増加するイオントラップ質量分析器を提供する。【構成】 本発明は一般にイオンを分析するためのイオントラップ式質量分析器に係り、より詳細には、拡大されたイオン占有体積を有する実質的に四重極のイオントラップ式質量分析器に係る。イオン占有体積を拡大するような電極形状が開示される。増大されたイオン占有体積が多数のイオンを蓄積できるようにするので、同じ電荷密度に対して、イオン感度、検出範囲及びダイナミックレンジの改善が実現される。本発明の要旨は、これらのイオントラップ形状が、質量選択性不安定性モードや、共振励起/放出や、MSn といった実質的な四重極のイオントラップの全ての動作モードに適用できることである。

Claim (excerpt)：

イオンを分析するためのイオントラップ式質量分析器において、拡大したイオン占有体積を助成する形状とされた少なくとも2つの電極を含みそして中心軸を有しているトラップチャンバと、質量対電荷比の所定範囲内のイオンを捕らえるように上記トラップチャンバに実質的な四重極フィールドを確立して維持する手段と、上記実質的な四重極フィールドによりイオンが捕らえられる上記トラップチャンバにイオンを導入又は形成する手段と、特定質量の捕らえられたイオンが不安定となって、上記中心軸に直交する方向にトラップチャンバを出るように上記実質的な四重極フィールドを変更するための手段と、イオンが上記構造体を出た後にそれらイオンを検出する手段と、その検出されたイオンの質量対電荷比を表す出力信号を発生する手段とを備えたことを特徴とする質量分析器。

IPC (2)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-037861
  
• 特開昭63-313460