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J-GLOBAL ID:200903077628362031

非導電性材料の超音波探傷方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐々木 宗治 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998261318
Publication number (International publication number):2000088815
Application date: Sep. 16, 1998
Publication date: Mar. 31, 2000
Summary:
【要約】【課題】 非導電性材料である検査対象物の内部ならびに表面の欠陥を非接触で検査できる超音波探傷方法。【解決手段】 検査対象物としての前記非導電性材料7の表面に導電性皮膜14を形成し、該導電性皮膜14を介して前記非導電性材料7に、電磁超音波探触子を用いて非接触で超音波を送受信(20,21)して探傷を行う。
Claim (excerpt):
非導電性材料の内部ならびに表面の欠陥を超音波により探傷する方法において、検査対象物としての前記非導電性材料の表面に導電性皮膜を形成し、該導電性皮膜を介して前記非導電性材料に超音波を送受信して探傷を行うことを特徴とする非導電性材料の超音波探傷方法。
F-Term (10):
2G047AA08 ,  2G047AA09 ,  2G047AA10 ,  2G047AD01 ,  2G047BC08 ,  2G047BC09 ,  2G047CA02 ,  2G047EA09 ,  2G047EA10 ,  2G047GA20

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