Pat

J-GLOBAL ID：200903077662284023

磁気計測装置

Inventor： 林 武彦 ,  後藤 隆男 ,  中島 善康
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 井桁 貞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991161912
Publication number (International publication number)：1993007561
Application date： Jul. 02, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明はSQUID磁束計を用いて主に生体内で発生した電流ダイポールによって生じる磁界分布を測定し、その磁界分布に基づいて電流ダイポールの位置を求める磁気計測装置に関し、電流ダイポールの位置を高速に求めることを目的とする。【構成】多チャンネルSQUID磁束計を用いて測定された磁界分布の微分値を演算により求めるか、もしくは微分コイルを備えた多チャンネルSQUID磁束計を用いて磁界分布の微分値を測定し、その微分値に基づいて磁界分布の稜線の交点を求め該交点の位置に基づいて電流ダイポールの位置を求める構成とする。

Claim (excerpt)：

電流ダイポールによって生じる磁界分布を測定する、超伝導コイルを多数備えた多チャンネル超伝導量子干渉計と、前記磁界分布の微分値を求める微分演算手段と、前記微分値に基づいて、前記磁界分布の互いに異なる方向に伸びる稜線の交点を求め該交点の位置に基づいて前記電流ダイポールの位置を求める位置演算手段とを備えたことを特徴とする磁気計測装置。

IPC (4)：

A61B 5/05 ,  G01R 33/035 ZAA ,  G01R 33/10 ,  H01L 39/22 ZAA