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J-GLOBAL ID：200903077664806272

X線像の着目部分に基づく露出制御

Inventor： ファン アステン,アルドゴンダ カタリナ マリア
Applicant, Patent owner： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Agent (1)： 伊東 忠彦 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998529328
Publication number (International publication number)：2000513869
Application date： Mar. 12, 1998
Publication date： Oct. 17, 2000
Summary：

【要約】X線検査装置は、X線像から映像信号を得るX線検出器(1)と、X線像の関連部分に基づいてX線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含む。露出制御システムは、X線像の画素を画素の輝度値に基づいて1個以上のクラスタに分類し、クラスタからX線像の着目部分を選択するよう構成される。

Claim (excerpt)：

X線像を受信するX線検出器(1)と、 上記X線像の着目部分に基づいてX線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含むX線検査装置において、 上記露出制御システム(2)は、 上記X線像の画素を上記画素の輝度値に基づいて1個以上のクラスタに分類し、 上記クラスタから上記X線像の上記着目部分を選択するよう構成されていることを特徴とするX線検査装置。