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J-GLOBAL ID：200903077690243448

ワーストケース・モデルパラメータ生成方法及び装置

Inventor： 川喜田 秀行
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998094490
Publication number (International publication number)：1999296561
Application date： Apr. 07, 1998
Publication date： Oct. 29, 1999
Summary：

【要約】【課題】注目素子特性に関し、ワースト値、独立要素の許容限界等の条件から、また、指定の素子特性値(保証値)を示すモデルパラメータに対応する独立要素の条件からワーストケース・モデルパラメータ生成方法、及び装置を提供する。【解決手段】データ入力部1は、モデルパラメータの変動に影響を与える独立要素の基準値、独立要素の分布を指定する値、注目素子特性の所望値、モデルパラメータと独立要素の関係式が入力される。データ処理部2で、注目素子特性に対する独立要素の感度、ワーストポイント、モデルパラメータ等の計算を行う。感度計算によって求められた感度のデータ、独立要素の基準値、素子特性の所望値あるいは独立要素の許容限界値から、モデルパラメータの存在確率が一定の独立要素の領域で指定の情件に合致した素子特性の最小値または最大値を取る独立要素の値が求められる。

Claim (excerpt)：

少なくとも、回路シミュレーションに用いるモデルパラメータの変動に影響を与える1以上の独立要素の基準値、前記独立要素の分布を指定する値、注目素子特性の所望値、及び前記独立要素とモデルパラメータの関係式を得るデータ取得工程と、前記注目素子特性に対する前記独立要素の感度が計算される感度計算工程と、前記感度計算により得られた感度と前記取得手段から得られたデータを用いてモデルパラメータの存在確率が実質一定の前記独立要素の領域において注目素子特性の最小値または最大値を前記所望値に一致させるための前記独立要素の値を求めるワーストポイント計算工程と、前記ワーストポイント計算で得られた前記独立要素の値と前記関係式からモデルパラメータを計算するモデルパラメータ計算工程とを具備したを特徴とするワーストケース・モデルパラメータ生成方法。

IPC (3)：

G06F 17/50 ,  G06F 17/00 ,  H01L 21/82

FI (4)：

G06F 15/60 662 G ,  G06F 15/20 D ,  G06F 15/60 668 A ,  H01L 21/82 C