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J-GLOBAL ID：200903077718771011
3次元測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996322425
Publication number (International publication number)：1998160422
Application date： Dec. 03, 1996
Publication date： Jun. 19, 1998
Summary：
【要約】【課題】 短時間に高精細の立体情報を得ることのできる3次元測定装置を提供することを。【解決手段】 レーザー照射手段1により被測定物4に対して格子状のアドレス情報を含むレーザーマークを表示させ、当該レーザーマークを読取位置A,Bにて撮像装置2により読み取り、それぞれ記憶する。また、前記レーザーマークの表示を停止した状態で、再び前記読取位置Bにおいて前記被測定物4の表面の画像情報を前記撮像装置2により読み取る。そして、前記記憶した画像情報から、前記アドレス情報を判別し、列アドレスと行アドレスの交点から読取位置A,Bにおける同一読取対象領域を判別し、三角法により3次元情報を得る。更に、前記レーザーマークの無い表面情報を判別した領域に当てはめる。
Claim (excerpt)：
立体物の表面を、前記立体物と所定距離離れた2か所以上の読取位置から画像情報として読み取る読取手段と、立体物の表面上の複数領域に対し、固有の目盛り情報を表示させる目盛り情報表示手段と、前記読取手段により読み取った画像情報を記憶する記憶手段と、前記目盛り情報の表示状態及び非表示状態における前記立体物の表面についての画像情報を、前記記憶手段に記憶させる画像読取制御手段と、異なる読取位置における同一の対象領域の判別を前記目盛り情報に基づいて行い、該読取位置間の距離と、該読取位置から前記判別した対象領域を見込む角度とから、前記判別した対象領域の3次元位置情報を算出する算出手段と、前記判別した対象領域に、前記目盛り情報の非表示状態における前記画像情報を関係付ける手段と、を備えたことを特徴とする3次元測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01B 11/24 A
, G06F 15/62 415
