Pat

J-GLOBAL ID：200903077721897743

表面欠陥検出方法

Inventor： 元 村 雅 記 ,  内 藤 修 治
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 杉信 興
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992235956
Publication number (International publication number)：1994082389
Application date： Sep. 03, 1992
Publication date： Mar. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 物体の表面上の欠陥を非接触で2次元的に検出する。【構成】 表面欠陥を検出すべき物体の表面に対して、上部の異なる方位より、それぞれ異なる単一色光源で照明し、その照明された部分を少なくとも一台のカラーテレビカメラで前記単一色光源の光軸方向から撮像し、その撮像画像から特定色抽出方法によりあらかじめ定めた特定色の画像を抽出し、その画像より特定の表面欠陥を検出する。【効果】 テレビカメラを用いた2次元的な方法であるから、広範囲に且つ非接触に表面欠陥を検出できる利点を持つ。

Claim (excerpt)：

表面欠陥を検出すべき物体の表面に対して、上部の異なる方位より、それぞれ異なる単一色光源で照明し、その照明された部分を少なくとも一台のカラーテレビカメラで前記単一色光源の光軸方向から撮像し、その撮像画像から特定色抽出方法によりあらかじめ定めた特定色の画像を抽出し、その画像より特定の表面欠陥を検出する表面欠陥検出方法。

IPC (3)：

G01N 21/89 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/88