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J-GLOBAL ID：200903077922316455
ガス分析におけるサンプリング装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994079916
Publication number (International publication number)：1995260644
Application date： Mar. 26, 1994
Publication date： Oct. 13, 1995
Summary：
【要約】【目的】 例えば自動車の排ガスのように、サンプルガスの濃度が時々刻々変化するような場合、バックグラウンドの影響を受けることなく、そして、煩わしい前処理を要することなく、しかも確実にガスサンプリングを行うことができるサンプリング装置を提供すること。【構成】 希釈されたサンプルガスを定容量採取装置5によって一定流量サンプリングするガス分析におけるサンプリング装置において、定容量採取装置5から分岐するサンプリング流路8のガス採取口8aを、定容量採取装置5のメインベンチュリ6のスロート部6aまたはスロート部6aのやや下流側に設けるとともに、サンプリング流路8の下流側にコールドトラップ13を設け、このコールドトラップ13を介して分析部16にサンプルガスを供給するよう構成した。
Claim (excerpt)：
希釈されたサンプルガスを定容量採取装置によって一定流量サンプリングするガス分析におけるサンプリング装置において、前記定容量採取装置から分岐するサンプリング流路のガス採取口を、前記定容量採取装置のメインベンチュリのスロート部またはスロート部のやや下流側に設けるとともに、前記サンプリング流路の下流側にコールドトラップを設け、このコールドトラップを介して分析部にサンプルガスを供給するように構成したことを特徴とするガス分析におけるサンプリング装置。
IPC (2)：
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