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J-GLOBAL ID：200903077923591247

電位測定装置、及びそれを用いた画像形成装置

Inventor： 香取 篤史 ,  市村 好克 ,  牛島 隆志 ,  財津 義貴
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 加藤 一男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007207320
Publication number (International publication number)：2009042066
Application date： Aug. 09, 2007
Publication date： Feb. 26, 2009
Summary：

【課題】高速且つ高精度な電位測定を行うことができる電位測定装置を提供する。【解決手段】電位測定装置は、電位差検出手段101と、制御信号生成手段102と、昇圧手段103と、電位情報取得手段107と、を有する。電位差検出手段は、測定対象106の電位と検知電極105の基準電位203との電位差を検出する。制御信号生成手段は、検出した電位差に基づいて制御信号202を生成する。昇圧手段は、制御信号に基づいて基準電位を調整する。電位情報取得手段は、基準電位の情報204を取得する。制御信号は、検出した電位差を所定の値にするように生成される。電位差の情報を基に、制御信号生成手段の制御信号を生成するときの増幅度と制御信号生成手段の制御信号を生成するときの第1の時定数と昇圧手段の基準電位を調整するときの第2の時定数と、のうちの少なくとも1つを可変とする。これにより、昇圧手段による基準電位の調整態様が制御される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象の電位と検知電極の基準電位との電位差を検出する電位差検出手段と、前記検出した電位差に基づいて制御信号を生成する制御信号生成手段と、前記制御信号に基づいて前記基準電位を調整する昇圧手段と、前記基準電位の情報を取得する電位情報取得手段と、を有し、 前記検出した電位差が所定の値になるように前記制御信号を生成する電位測定装置であって、 前記基準電位の調整態様を制御するように、少なくとも前記検出した電位差の情報を基に、前記制御信号生成手段の制御信号を生成するときの増幅度と、前記制御信号生成手段の制御信号を生成するときの第1の時定数と、前記昇圧手段の基準電位を調整するときの第2の時定数と、のうちの少なくとも1つを可変とする、 ことを特徴とする電位測定装置。

IPC (3)：

G01R 29/12 ,  G03G 15/08 ,  G03G 15/00

FI (4)：

G01R29/12 G ,  G03G15/08 507X ,  G03G15/08 505A ,  G03G15/00 303

F-Term (14)：

2H027DA01 ,  2H027DA02 ,  2H027DE04 ,  2H027DE07 ,  2H027EC06 ,  2H077AD06 ,  2H077AD13 ,  2H077AD35 ,  2H077AE06 ,  2H077BA07 ,  2H077BA08 ,  2H077CA11 ,  2H077EA03 ,  2H077GA03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 表面電位センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-030515   Applicant：ティーディーケイ株式会社
• 特公平03-6467号公報