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J-GLOBAL ID：200903077973717918

光パルス試験器

Inventor： 松村 文雄
Applicant, Patent owner： 東洋通信機株式会社
Agent (1)： 鈴木 均
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996092055
Publication number (International publication number)：1997257637
Application date： Mar. 21, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、距離分解能を飛躍的に高くするとともに、ダイナミックレンジを広くする。【解決手段】 現在の技術レベルでも、光のクロストークを40dB以下にすることができる光方向性結合器3を使用して、光パルスの光路と、反射光の光路とを分離するとともに、20Gbit/sのデジタル信号の変調が可能な電界吸収型光スイッチ5を使用して、光ファイバ4から出射される反射光の遮光/通過を制御し、光アンプ6によって20dBから30dBの増幅度を確保して、前記電界吸収型光スイッチ5を挿入することによって生じる挿入損失を補償しながら、光検出器7によって前記反射光を検出して、光ファイバ4の破断点位置を測定する。

Claim (excerpt)：

光パルスを光ファイバに入射して、この光ファイバの破断点から反射されてくる前記光パルスの反射光を受光し、前記破断点の位置を測定する光パルス試験器において、光パルスを発生するレーザダイオード光モジュールと、入射する光パルスの方向に応じた出射端子から出射する光方向性結合器と、入射した反射光を遮光/通過させる電界吸収型光スイッチと、入射した反射光を増幅する光アンプと、入射した反射光を電気信号に変換する光検出器とを組み合わせて構成されることを特徴とする光パルス試験器。