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J-GLOBAL ID:200903077974949499
ピックアップ装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
藤村 元彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998356392
Publication number (International publication number):2000182254
Application date: Dec. 15, 1998
Publication date: Jun. 30, 2000
Summary:
【要約】【課題】 高開口数の対物レンズを用いた光学系であっても記録/未記録ディスクに拘わらずその透過基板の厚さ誤差によって発生する球面収差を補正することができるピックアップ装置を提供する。【解決手段】 光ディスクの記録面から対物レンズを介して得られた反射光のうち、第1の所定開口数より小なる第2の所定開口数以下の部分のみを介して照射された第1照射光による第1反射光を検出し、記録面における第1照射光の焦点ずれを示す第1エラー信号を生成し、その得られた反射光のうち、第2の所定開口数より大なる所定開口数以下の部分を介して照射された第2照射光による第2反射光を検出し、記録面における第2照射光の焦点ずれを示す第2エラー信号を生成し、第1及び第2エラー信号の少なくとも一方を用いて球面収差に対応する信号を得る。
Claim (excerpt):
記録面上を透過基板で覆われた光ディスクに対して情報の書き込み或いは読み取りを行なうピックアップ装置であって、光ビームを第1の所定開口数の対物レンズを介して前記記録面に照射し、前記記録面からの反射光を前記対物レンズを介して得る反射光抽出手段と、前記反射光抽出手段から得られた反射光のうち、第1の所定開口数より小なる第2の所定開口数以下の部分のみを介して照射された第1照射光による第1反射光を検出し、前記記録面における前記第1照射光の焦点ずれを示す第1エラー信号を生成する第1焦点誤差検出手段と、前記反射光抽出手段から得られた反射光のうち、前記第2の所定開口数より大なる所定開口数以下の部分を介して照射された第2照射光による第2反射光を検出し、前記記録面における前記第2照射光の焦点ずれを示す第2エラー信号を生成する第2焦点誤差検出手段と、前記第1及び第2エラー信号の少なくとも一方を用いて球面収差に対応する信号を得る手段と、を備えたことを特徴とするピックアップ装置。
IPC (2):
FI (2):
G11B 7/09 B
, G11B 7/135 Z
F-Term (15):
5D118AA11
, 5D118AA16
, 5D118CC12
, 5D118CD02
, 5D118CF04
, 5D118CG03
, 5D118CG15
, 5D118DA20
, 5D118DC03
, 5D119AA28
, 5D119EC01
, 5D119EC02
, 5D119JA24
, 5D119JA43
, 5D119JA47
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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フォーカスエラー検出方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-162322
Applicant:三星電子株式会社
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光学式記録再生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-113857
Applicant:三菱電機株式会社
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光ヘッド装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-123798
Applicant:日本電気株式会社
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特開昭63-229640
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特開昭60-171644
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収差検出装置および光ピックアップ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-349072
Applicant:シャープ株式会社
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収差検出装置及び光学情報記録再生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-237985
Applicant:松下電器産業株式会社
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特開昭63-229640
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特開昭60-171644
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