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J-GLOBAL ID：200903077981441565

光断層イメージング装置

Inventor： 金子 守 ,  田口 晶弘 ,  高山 修一 ,  上 邦彰 ,  岡▲崎▼ 次生 ,  窪田 哲丸 ,  安永 浩二 ,  大澤 篤 ,  大橋 一司 ,  大明 義直
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992310568
Publication number (International publication number)：1994160272
Application date： Nov. 19, 1992
Publication date： Jun. 07, 1994
Summary：

【要約】【目的】 体腔内部の組織に対する診断を行うための光断層像を得ることのできる光断層イメージング装置を提供すること。【構成】 被検体内に挿入可能な細長の挿入部8を有する内視鏡2内に低干渉性光を導光する光ファイババンドル25を挿通し、挿入部8の先端側の端面から関心部位19側に出射すると共に、関心部位19側で反射された測定光を逆方向に伝送し、干渉部6内部の(干渉光)検出部44に導く。光ファイババンドル25の各光ファイバにはスキャナ39で順次低干渉性光が導光される。検出部44はミラー45で反射された参照光の光路長と殆ど同じ光路長となる測定光とを干渉させて検出し、ミラー55を可動することにより深さ方向の断層像を得られるようにする。

Claim (excerpt)：

被検体内に挿入可能な細長の挿入部と、低干渉性光を発生する低干渉性光発生手段と、前記挿入部内に挿通され、前記挿入部の先端側の端面から被検体側に前記低干渉性光を複数の位置に出射すると共に、被検体側で反射された反射光を検出するための複数の光ファイバからなる導光手段と、前記低干渉性光を前記複数の光ファイバに順次導光し、出射位置を変化すると共に、被検体側で反射された反射光を順次検出するための光走査手段と、前記光走査手段で検出した反射光と前記低干渉性光から生成した基準光とを干渉させて、干渉した干渉光に対応する干渉信号を抽出する干渉光抽出手段と、前記基準光側又は反射光側の光路長を変化させる光路長変化手段と、前記干渉信号に対する信号処理を行い、前記被検体の深さ方向の断層像を構築する信号処理手段と、を有することを特徴とする光断層イメージング装置。

IPC (3)：

G01N 21/17 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/27