Pat
J-GLOBAL ID:200903077990192225
画面のスジ欠陥検出方法及び装置並びに表示装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
小林 久夫
, 安島 清
, 佐々木 宗治
, 大村 昇
, 高梨 範夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003399662
Publication number (International publication number):2005165387
Application date: Nov. 28, 2003
Publication date: Jun. 23, 2005
Summary:
【課題】 白スジに限らず、黒スジも検出でき、さらに各種サイズのスジ欠陥を高精度に検出することができることを目的とする。【解決手段】 撮像画像のスジ欠陥を強調して検出するために異なる方向に対してそれぞれ線検出フィルタをかける工程は、各方向に領域を3分割し、各分割領域毎に重み付けをしてなる3つの分割領域強調フィルタからなる線検出フィルタを用い、撮像画像に対して3つの分割領域強調フィルタをかけて畳み込み演算をそれぞれ行い、真ん中の分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果が真ん中に隣接する2つの分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果の値よりそれぞれ大きいか、それぞれ小さい場合に真ん中の分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果と真ん中に隣接する2つの分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果の和との差をスジ欠陥の輝度値として検出するようにしたものである。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被検査対象の画面を撮像した画像に対してスジ欠陥を強調して検出するために異なる方向に対してそれぞれ線検出フィルタをかける工程と、線検出フィルタをかけて異なる方向でスジ欠陥が強調されたそれぞれの画像の所定領域における画素の輝度値に基づく統計データを計算する工程と、統計データに基づいて輝度値の閾値を設定し、統計データと該閾値から欠陥候補の有無を判断する工程とを有する画面のスジ欠陥検出方法において、
前記線検出フィルタをかける工程は、
各方向に領域を3分割し、各分割領域毎にそれぞれ重み付けをしてなる3つの分割領域強調フィルタからなる線検出フィルタを用い、
前記画像に対して線検出フィルタの3つの分割領域強調フィルタをかけて畳み込み演算をそれぞれ行い、真ん中の分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果が真ん中に隣接する2つの分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果の値よりそれぞれ大きいか、それぞれ小さい場合に真ん中の分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果と真ん中に隣接する2つの分割領域強調フィルタの畳み込み演算の結果の和との差をスジ欠陥の輝度値として検出するようにしたことを特徴とする画面のスジ欠陥検出方法。
IPC (6):
G06T1/00
, G01N21/88
, G02F1/13
, G06T5/20
, G09G3/20
, G09G3/36
FI (6):
G06T1/00 305A
, G01N21/88 J
, G02F1/13 101
, G06T5/20 B
, G09G3/20 670Q
, G09G3/36
F-Term (48):
2G051AA51
, 2G051AB02
, 2G051CA04
, 2G051CB02
, 2G051EA08
, 2G051EB01
, 2G051ED03
, 2G051ED21
, 2H088EA12
, 2H088FA12
, 2H088FA13
, 2H088FA30
, 5B057AA03
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CD05
, 5B057CE02
, 5B057CE03
, 5B057CE06
, 5B057CE12
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
, 5B057DC32
, 5C006AF53
, 5C006AF63
, 5C006AF78
, 5C006BB11
, 5C006BF39
, 5C006EB01
, 5C006EC11
, 5C006FA00
, 5C080AA10
, 5C080BB05
, 5C080DD15
, 5C080EE29
, 5C080FF09
, 5C080GG07
, 5C080GG09
, 5C080JJ01
, 5C080JJ02
, 5C080JJ07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
LCDパネル検査における線ムラ検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-037274
Applicant:三洋電機株式会社
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