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J-GLOBAL ID：200903078011771615

選択性の高い画像処理による高感度な異物検出装置

Inventor： 高橋 良文 ,  塩入 健
Applicant, Patent owner： アンリツ株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外2名)
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP1996003778
Publication number (International publication number)：WO1998011456
Application date： Dec. 25, 1996
Publication date： Mar. 19, 1998
Summary：

【要約】本発明は異物に対する選択性が高く高感度な異物検出装置を提供する。搬送部(2)は被測定物(1)を所定の搬送方向に搬送する。X線源(3)は前記搬送部によって搬送される前記被測定物にX線を照射する。X線検出部(4)は前記被測定物を透過したX線を検出するもので、前記所定の搬送方向と直交する方向に所定の検出器幅を有するX線検出器を備えている。記憶部(5)は前記X線検出部によって検出されたX線強度値の2次元分布を透過画像として各画素毎に格納する。平均値算出部(7)は前記記憶部に格納された透過画像の各画素毎に対象画素を含んだ7画素×7画素以上または9画素×9画素以上または11画素×11画素以上でかつ前記所定の検出器幅の1/2に対応する画素数×前記所定の検出器幅の1/2に対応する画素数以下の局所領域に所定の係数行列を用いて積和演算を行って領域平均値を算出する。差分算出部(8)は前記記憶部に格納された透過画像における前記対象画素についての前記X線強度値と前記平均値算出部によって算出された前記対象画素についての領域平均値との差分を算出する。判定部(9)は前記差分算出部によって算出された前記差分と予め定められた判定基準値とを比較して前記被測定物中における異物の有無を判定する。

Claim (excerpt)：

被測定物を所定の搬送方向に搬送する搬送手段と、 前記搬送手段によって搬送される前記被測定物にX線を照射するX線源と、 前記被測定物を透過したX線を検出するもので、前記所定の搬送方向と直交する方向に所定の検出器幅を有するX線検出器を備えたX線検出手段と、 前記X線検出手段によって検出されたX線強度値の2次元分布を透過画像として各画素毎に格納する記憶手段と、 前記記憶手段に格納された透過画像の各画素毎に対象画素を含んだ7画素×7画素以上でかつ前記所定の検出器幅の1/2に対応する画素数×前記所定の検出器幅の1/2に対応する画素数以下の局所領域に所定の係数行列を用いて積和演算を行って領域平均値を算出する平均値算出手段と、 前記記憶手段に格納された透過画像における前記対象画素についての前記X線強度値と前記平均値算出手段によって算出された前記対象画素についての領域平均値との差分を算出する差分算出手段と、 前記差分算出手段によって算出された前記差分と予め定められた判定基準値とを比較して前記被測定物中における異物の有無を判定する判定手段とを具備する疑似異物信号を効果的に抑圧し、選択性が高く高感度な異物検出装置。

IPC (3)：

G01V 5/00 ,  G01N 23/04 ,  G06T 1/00