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J-GLOBAL ID：200903078182739396

粒度分布測定装置

Inventor： 丹羽 猛
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991188563
Publication number (International publication number)：1993034259
Application date： Jul. 29, 1991
Publication date： Feb. 09, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 特殊なフローセルを使用することなく、簡単な構成のもとに大角度の散乱光を含めた広範囲の散乱光の高精度測定が可能で、高精度の粒度分布測定結果を得ることのできるレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置を提供する。【構成】 リングデテクタ24等を用いた通常の前方散乱・回折光測定用光学系に加えて、異なる方向から照射される平行レーザ光による散乱光を、二重スリットを介して複数の角度位置で測定する複数の光検出器を設ける。

Claim (excerpt)：

被測定粒子を媒液中に分散させた懸濁液が流されるフローセルと、このフローセルに対して所定方向から平行レーザ光を照射して被測定粒子による散乱・回折光の強度分布を前方所定角度範囲で測定する前方散乱・回折光測定系と、その強度分布の測定結果に基づいて被測定粒子の粒度分布を求める演算手段を備えた装置において、上記前方散乱・回折光測定系によるレーザ光の照射方向と異なる方向から上記フローセルに平行レーザ光を照射する手段と、この照射光の被測定粒子による散乱光を、それぞれ互いに所定距離を置いて配設された2つのスリットを介して複数の散乱角上で測定する複数の光検出器を備え、上記演算手段は、この各光検出器の出力と上記前方散乱・回折光測定系の出力とに基づいて被測定粒子の粒度分布を算出するよう構成されていることを特徴とする粒度分布測定装置。

IPC (3)：

G01N 15/02 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/49