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J-GLOBAL ID：200903078185455542
走査型トンネル顕微鏡および情報記録装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993203884
Publication number (International publication number)：1995055821
Application date： Aug. 18, 1993
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：
【要約】【目的】試料表面の漏洩磁界を検出する機能を持った走査型トンネル顕微鏡を用いた情報記録装置を提供することにある。【構成】走査型トンネル顕微鏡の探針1の尖端から複数個の電極を取り、トンネル電流を複数の電極から取れるように設ける。複数の電極からのトンネル電流をそれぞれ増幅し、その出力を加算,減算処理を行うよう回路を構成する。【効果】試料表面の漏洩磁界を観察することが出来る。
Claim (excerpt)：
鋭い探針を試料に近づけ、前記探針と前記試料間を流れるトンネル電流により前記試料表面の形状を観察する走査型トンネル顕微鏡において、前記探針が複数の電流通路を有し、かつそれらが探針先端から分かれている構造になっていることを特徴とする走査型トンネル顕微鏡。
IPC (2)：
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