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J-GLOBAL ID：200903078198528565
外観検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
森田 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997151929
Publication number (International publication number)：1998339700
Application date： Jun. 10, 1997
Publication date： Dec. 22, 1998
Summary：
【要約】【課題】 従来の外観検査装置は、CCDカメラの各ライン上の検出信号波形に対し、閾値となる判定レベルを設定し、この判定レベルを超えた場合に不良品であると判定していたため、検査対象の感光体ドラムの軸方向に存在する欠陥であるいわゆるスジを検出してしまい、感光体ドラムの良否判断の確度が低かった。【解決手段】 本発明の外観検査装置は、検査物であるドラムの外観を撮像するカメラ3と、その画像データからドラムの欠陥を検出する画像処理部4を備え、前記画像処理部4は、前記画像データからドラムの軸に平行な各ラインについて濃度ヒストグラムを作成し、その分散値と閾値との比較結果に応じて、当該ラインの全データを一定値に置き換えることにより当該ライン上に存在する欠陥を除去する前処理を行うことを特徴とする。
Claim (excerpt)：
被検査物であるドラムの外観を撮像するカメラと、その画像データからドラムの欠陥を検出する画像処理部を備える外観検査装置において、前記画像処理部は、前記画像データからドラムの軸に平行な各ラインについて濃度ヒストグラムを作成し、その分散値と閾値との比較結果に応じて、当該ラインの全データを一定値に置き換えることにより当該ライン上に存在する欠陥を除去する前処理を行うことを特徴とする外観検査装置。
IPC (2)：
FI (3)：
G01N 21/88 A
, G01N 21/88 J
, G01B 11/30 A
