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J-GLOBAL ID：200903078339254014

定例操作支援方法及びその装置

Inventor： 林 喜治 ,  大賀 幸治 ,  丸山 武一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996003262
Publication number (International publication number)：1997189569
Application date： Jan. 11, 1996
Publication date： Jul. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】 プラントの定例操作試験において、プラント構成機器の異常検出の精度を向上させ、異常の種類までも特定する。【解決手段】 プラント1を構成する機器を動作させる操作信号を操作信号入力部2から取り込み、この操作信号により特定される試験対象機器に関係するプラント信号をプラントデータ取込み部3で取り込み、試験対象機器に応じてニューラルネット演算部7の構造を決定し、試験対象機器に関係するプラント信号の時間変化から複数種類の特徴量を演算部5で求めて各特徴量をニューラルネット演算部7に入力する。そして、ニューラルネット演算部7の出力から当該試験対象機器の正常・異常の判定および/または異常の種類の特定を異常判定部10で行う。試験対象機器毎にニューラルネットの入力層,中間層,出力層の各構成ユニット数や重み係数を決定するため、判定精度が向上する。

Claim (excerpt)：

プラントを構成する機器を動作させる操作信号を取り込み、該操作信号により特定される試験対象機器に関係するプラント信号を取り込み、前記試験対象機器に応じてニューラルネットの構造を決定し、前記試験対象機器に関係するプラント信号の時間変化から複数種類の特徴量を求めて各特徴量を前記ニューラルネットに入力し、該ニューラルネットの出力から当該試験対象機器の正常・異常の判定および/または異常の種類の特定を行うことを特徴とする定例操作支援方法。

IPC (4)：

G01D 1/18 ,  G01D 21/00 ,  G05B 13/02 ,  G05B 23/02 302

FI (4)：

G01D 1/18 N ,  G01D 21/00 N ,  G05B 13/02 L ,  G05B 23/02 302 Z