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J-GLOBAL ID：200903078428920494

電池の外観検査法および検査装置

Inventor： 女屋 高幸
Applicant, Patent owner： 東芝電池株式会社
Agent (1)： 須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997252488
Publication number (International publication number)：1999096981
Application date： Sep. 17, 1997
Publication date： Apr. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 煩雑な操作なども要せずに、凸型電極端子を含む封口体面の汚れや傷跡の有無などの外観を容易、かつ高精度に、検査できる外観検査法およびこの外観検査法の実施に適する外観検査装置の提供。【解決手段】 電池の外観検査法の発明は、凸型電極端子1aを有する電池1の外観検査法であって、前記凸型電極端子1aを含む面を、ほぼ一様な明るさの光で照射する手段と、前記光照射による反射画像データを画像処理して被外観検査の中心位置を決める手段と、前記設定した中心位置を基準にして、凸型電極端子1aを含む面上の区域に被検査領域A,B,Cを指定する手段と、前記指定した被検査領域A,B,Cの反射画像データを多階調に濃度処理する手段と、前記多階調な濃度処理により指定領域の濃度差に対応する面積を局部的に算出する手段と、前記算出した指定領域の濃度差に対応する局部的な面積を、基準状態における指定領域の濃度差に対応する局部的な面積と比較し、局部的面積内での汚れや傷の有無を判別する手段とを備えていることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

凸型の電極端子を有する電池の外観検査法であって、前記凸型の電極端子を含む面をほぼ一様な明るさの光で照射する手段と、前記光照射による反射画像データを画像処理して被外観検査の中心位置を決める手段と、前記設定した中心位置を基準にして、凸型の電極端子を含む面上の区域に被検査領域を指定する手段と、前記指定した被検査領域の反射画像データを多階調に濃度処理する手段と、前記多階調な濃度処理により指定領域の濃度差に対応する面積を局部的に算出する手段と、前記算出した指定領域の濃度差に対応した局部的な面積を、基準状態における指定領域の濃度差に対応した局部的な面積と比較し、局部的面積内での濃度差から汚れや傷の有無を判別する手段とを備えいることを特徴とする電池の外観検査法。

IPC (3)：

H01M 2/08 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/85

FI (3)：

H01M 2/08 C ,  G01B 11/30 Z ,  G01N 21/85 Z