Pat

J-GLOBAL ID：200903078541736357

核磁気共鳴を用いた検査方法

Inventor： 小野寺 由香里 ,  山本 悦治 ,  鈴木 隆一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991164265
Publication number (International publication number)：1993007569
Application date： Jul. 04, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】 MRI内に不均質な検査対象を設置した場合にも、静磁場均一度の空間分布を迅速に計測可能とした検査方法を提供すること。【構成】 核磁気共鳴を用いる検査装置において、不均質な検査対象の位相分布を計測し、これから静磁場の不均一分布を求める第1のステップと、前記検査対象の横緩和時間の分布を計測する第2のステップとを有することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法、すなわち、同じ空間位置における位相情報と縦緩和時間を同時に計測し、その位置における成分を予測してケミカルシフトによる位相項の差を除去し、静磁場不均一によって生じる位相情報のみを求める。

Claim (excerpt)：

静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の発生手段と、いくつかのチャンネルを有してそれぞれのコイル(シムコイル)に流れる電流値を変化させることにより前記静磁場の均一度が変化するような付加的な磁場の発生手段と、検査対象からの核磁気共鳴(NMR)信号を検出する信号検出手段と、該信号検出手段の検出信号の演算を行う計算機を有する核磁気共鳴を用いる検査装置において、不均質な検査対象の位相分布を計測し、これから静磁場の不均一分布を求める第1のステップと、前記検査対象の横緩和時間の分布を計測する第2のステップとを有することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法。

IPC (2)：

A61B 5/055 ,  G01R 33/38

FI (4)：

A61B 5/05 374 ,  A61B 5/05 312 ,  A61B 5/05 377 ,  G01N 24/06 G