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J-GLOBAL ID：200903078673701080

OFDR方式の多点歪計測装置

Inventor： 井川 寛隆 ,  葛西 時雄 ,  山口 功 ,  村山 英晶 ,  ▲高▼木 征蔵
Applicant, Patent owner： 独立行政法人航空宇宙技術研究所 ,  宇宙開発事業団 ,  有限会社データサイエンス
Agent (4)： 大城 重信 ,  山田 益男 ,  加藤 雅夫 ,  佐藤 文男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002375302
Publication number (International publication number)：2004205368
Application date： Dec. 25, 2002
Publication date： Jul. 22, 2004
Summary：

【課題】本発明の課題は、上記の問題点を踏まえ、光ファイバーに複数個のFBGを配置し、OFDRを用いた多点歪み計測システムにおいて、データ解析手法の改善を行い、計測のリアルタイム性、応答速度の向上を目指すことを目的とする。【解決手段】光ファイバーのコア内に周期的な屈折率構造を持たせたファイバー・ブラッグ・グレーティング(FBG)を1本の光ファイバーに複数個配置して、光の干渉強度の周期的変化を利用する測定方式(OFDR)において、検出光信号を予め帯域を設定したバンドパスフィルターを介することにより、特定位置のFBGからの信号を瞬時に分離する機能をもたせたことを特徴とする多点歪計測装置。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

光ファイバーのコア内に周期的な屈折率構造を持たせたファイバー・ブラッグ・グレーティング(FBG)を1本の光ファイバーに複数個配置して、光の干渉強度の周期的変化を利用する測定方式(OFDR)において、検出光信号を予め帯域を設定したバンドパスフィルターを介することにより、特定位置のFBGからの信号を瞬時に分離する機能をもたせたことを特徴とする多点歪計測装置。

IPC (2)：

G01B11/16 ,  G01D5/26

FI (2)：

G01B11/16 Z ,  G01D5/26 D

F-Term (21)：

2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065DD06 ,  2F065FF41 ,  2F065FF48 ,  2F065GG04 ,  2F065GG25 ,  2F065JJ15 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F103BA41 ,  2F103CA04 ,  2F103CA07 ,  2F103EB02 ,  2F103EB05 ,  2F103EC09