超音波診断装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：吉岡宏嗣
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004118985
Publication number (International publication number)：2005296436
Application date： Apr. 14, 2004
Publication date： Oct. 27, 2005
Summary：

【課題】先に撮像された断層像と後に撮像された断層像の表示断面を容易に一致させる。【解決手段】超音波診断装置は、画像撮像装置により取得される被検体の断層像のボリュームデータを被検体に予め設定された被検体座標系Pに対応付けるボリュームデータ作成部26と、位置センサ20の検出値に基づいて超音波断層像のスキャン面の座標を被検体座標系Pに対応付けて算出するスキャン面算出手段45と、超音波断層像のスキャン面に対応した断層像データをボリュームデータから抽出してリファレンス断層像を再構成するリファレンス像構成部30と、超音波断層像とリファレンス断層像を表示する表示部18を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

画像撮像装置により取得される被検体の断層像のボリュームデータを前記被検体に予め設定された被検体座標系に対応付けて記憶する記憶手段と、超音波探触子の位置及び傾きを検出するセンサの検出値に基づいて、前記超音波探触子により撮像される超音波断層像のスキャン面の座標を前記被検体座標系に対応付けて算出する算出手段と、前記超音波断層像のスキャン面に対応した断層像データを前記ボリュームデータから抽出してリファレンス断層像を再構成する抽出手段と、前記超音波断層像と前記リファレンス断層像を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。

IPC (4)：

A61B8/00 , A61B5/055 , A61B6/03 , G01R33/32

FI (4)：

A61B8/00 , A61B6/03 360B , A61B5/05 380 , G01N24/02 520Y

F-Term (26)：

4C093AA22 , 4C093AA26 , 4C093CA15 , 4C093CA50 , 4C093FF45 , 4C096AA18 , 4C096AB38 , 4C096AB50 , 4C096AD14 , 4C096DC31 , 4C096DC37 , 4C601BB03 , 4C601EE11 , 4C601FF08 , 4C601GA18 , 4C601GA25 , 4C601JC16 , 4C601JC18 , 4C601JC33 , 4C601KK12 , 4C601KK18 , 4C601KK24 , 4C601KK25 , 4C601LL04 , 4C601LL14 , 4C601LL33

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

ジャイロトロン装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-000741 Applicant：三菱電機株式会社

Cited by examiner (5)

超音波診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-313750 Applicant：株式会社日立メディコ
特開平2-128759
画像処理装置及びその補助具
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-105147 Applicant：東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝

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