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J-GLOBAL ID：200903078696666568

周波数成分測定装置

Inventor： 栗田 裕之
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 雨貝 正彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005215453
Publication number (International publication number)：2007033171
Application date： Jul. 26, 2005
Publication date： Feb. 08, 2007
Summary：

【課題】 構成の簡略化、測定時間の短縮、測定精度の向上が可能な周波数成分測定装置を提供すること。【解決手段】 測定対象となる被測定信号が共通に入力され、被測定信号に対して周波数変換を行う複数の周波数変換手段としてのミキサ10、20、ローカル発振器12、22等と、複数の周波数変換手段のそれぞれによって周波数変換が行われた後の信号に基づいて周波数成分抽出およびイメージ除去を行う信号処理手段としての信号処理部40とが備わっている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

測定対象となる被測定信号が共通に入力され、前記被測定信号に対して周波数変換を行う複数の周波数変換手段と、 前記複数の周波数変換手段のそれぞれによって周波数変換が行われた後の信号に基づいて周波数成分抽出およびイメージ除去を行う信号処理手段と、 を備えることを特徴とする周波数成分測定装置。

IPC (1)：

G01R 23/173

FI (1)：

G01R23/173 D

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• スペクトラムアナライザ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-143588   Applicant：株式会社アドバンテスト
• 国際公開第02/29426号パンフレット(第10-23頁、図7-22)
  
• 特開昭58-068677
  

Cited by examiner (1)

• 特開昭58-068677