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J-GLOBAL ID:200903078742842090

プロービング装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 須山 佐一 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991230343
Publication number (International publication number):1994053294
Application date: Sep. 10, 1991
Publication date: Feb. 25, 1994
Summary:
【要約】【目的】 作業効率の低下を招くことなくプロービングカードの温度を一定に保つことができ、常に均一な接触圧で精度の良い試験測定を行うことのできるプロービング装置を提供する。【構成】 プロービングカード1のプリント基板2の上面には、リング状等に形成された温度制御ユニット6が固定されている。この温度制御ユニット6は、その内部に加熱機構として、セラミックスヒータ6aと、プリント基板2の温度検出するためのの温度検出器6bが設けられている。また、温度制御ユニット6の上面または下面には、電力供給用端子6cと、温度センサ用端子6dとが設けられており、これらの電力供給用端子6c、温度センサ用端子6dを介して、プロービング装置本体に設けられた温度制御用電力供給機構10に電気的に接続されている。
Claim (excerpt):
被測定基板の電極に対応して複数のプロービング針が配列されたプロービングカードと、前記被測定基板を保持して所定温度に加熱する基板保持台と、前記基板保持台を駆動して前記被測定基板の電極と前記プロービングカードの前記プロービング針とを接触させる駆動機構とを具備したプロービング装置において、前記プロービングカードを所定温度に加熱するプロービングカード温度制御機構を設けたことを特徴とするプロービング装置。
IPC (2):
H01L 21/66 ,  G01R 1/073
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開平3-158764
  • 特開平1-278739
  • 特開平2-192749
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