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J-GLOBAL ID:200903078771112859

ド-プされた金属酸化物誘電体材料を有する電子部品及びド-プされた金属酸化物誘電体材料を有する電子部品の作製プロセス

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡部 正夫 (外11名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999065742
Publication number (International publication number):1999297867
Application date: Mar. 12, 1999
Publication date: Oct. 29, 1999
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、ドープされた金属酸化物誘電体材料を有する電子部品及びドープされた金属酸化物誘電体材料を有する電子部品の作製プロセスを提供する。【解決手段】 ドープされた金属酸化物誘電体材料及びこの材料で作られた電子部品が明らかにされている。金属酸化物はIII族又はV族金属酸化物(たとえば、Al2O3、Y2O3、Ta2O5またはV2O5)で、金属ドーパントはIV族元素(Zr、Si、TiおよびHf)である。金属酸化物は約0.1重量パーセントないし約30重量パーセントのドーパントを含む。本発明のドープされた金属酸化物誘電体は、多くの異なる電子部品及びデバイス中で用いられる。たとえば、ドープされた金属酸化物誘電体は、MOSデバイスのゲート誘電体として用いられる。ドープされた金属酸化物誘電体はまた、フラッシュメモリデバイスのポリ間誘電体材料としても用いられる。
Claim (excerpt):
誘電体材料は少なくとも1種類のIV族元素をドープしたIII族金属又はVB族金属の金属酸化物で、誘電体材料は約0.1重量パーセントないし約30重量パーセントのドーパントを含む誘電体材料を含む電子部品。
IPC (7):
H01L 21/8247 ,  H01L 29/788 ,  H01L 29/792 ,  H01L 27/115 ,  H01L 27/108 ,  H01L 21/8242 ,  H01L 29/78
FI (4):
H01L 29/78 371 ,  H01L 27/10 434 ,  H01L 27/10 651 ,  H01L 29/78 301 G

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