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J-GLOBAL ID：200903078884416307

渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いた渦流探傷検査方法

Inventor： 森 久和 ,  石田 秀顕
Applicant, Patent owner： 住友化学工業株式会社
Agent (1)： 深井 敏和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003000611
Publication number (International publication number)：2003294711
Application date： Jan. 06, 2003
Publication date： Oct. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】 インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。【解決手段】 インナーフィン75で仕切られた複数のセル76を有する伝熱管74の渦流探傷検査を行うためのものであって、導線を巻回したコイル4を有し前記セル76内に挿入されるボビン2と、このボビン2と一体化され前記インナーフィン75の壁面とボビン2との間に介在する導電性遮蔽板3とを備えるプローブ1を使用する。また、前記プローブ1を用いて標準比較法により得られるリサージュ波形のY軸成分から欠陥の有無を判定する。

Claim (excerpt)：

インナーフィンで仕切られた複数のセルを有する伝熱管の渦流探傷検査を行うためのプローブであって、導線を巻回したコイルを有し、前記セル内に挿入されるボビンと、このボビンと一体化され、前記インナーフィンの壁面とボビンとの間に介在する導電性遮蔽板とを備えることを特徴とする渦流探傷検査用プローブ。

F-Term (15)：

2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BA12 ,  2G053BA23 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA17 ,  2G053CB26 ,  2G053CB28 ,  2G053DA03 ,  2G053DA07 ,  2G053DB20 ,  2G053DB27