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J-GLOBAL ID:200903078895154223

材料試験機

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997018088
Publication number (International publication number):1998213531
Application date: Jan. 31, 1997
Publication date: Aug. 11, 1998
Summary:
【要約】【課題】従来の2軸引張試験では、試験片や試験治具表面の平面度や表面粗さ等が試験結果に影響を与えることがあり、精度の高い測定ができなかった。【解決手段】平板状の試験片1に対して、二軸引張応力下で破壊強度を測定するための材料試験機において、試験片1の一方の表面を、正三角形の頂点となる位置で3点支持する第1の支持部材2と、試験片1の他方の表面を、前記正三角形の重心となる位置で1点支持する第2の支持部材3とを具備し、第1の支持部材2と第2の支持部材3の支持点を通じて試験片1に応力を負荷し、試験片1の強度を測定する。
Claim (excerpt):
平板状の試験片に対して、二軸引張応力下で破壊強度を測定するための材料試験機において、前記試験片の一方の表面を、正三角形の頂点となる位置で3点支持する第1の支持部材と、前記試験片の他方の表面を、前記正三角形の重心となる位置で1点支持する第2の支持部材とを具備し、前記第1の支持部材と前記第2の支持部材の支持点を通じて試験片に応力を負荷することを特徴とする材料試験機。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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