Pat
J-GLOBAL ID:200903078962648147
光ピックアップ装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高野 明近
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999074405
Publication number (International publication number):2000268374
Application date: Mar. 18, 1999
Publication date: Sep. 29, 2000
Summary:
【要約】【課題】 装置の薄型化や小型化が可能な光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】 記録媒体7からの反射光が、ビームスプリッタ3で分割され、一方の光は、検光子9を介して受光素子モジュール26で受光されてラジアル誤差信号と情報信号とが検出される。もう一方の光は、受光素子14でフォーカス誤差信号のみが検出されるため、その受光部は2つの領域のみでよい。そのため、接続ピン19は、半導体レーザ1の発光用の端子と、2つの受光部の出力を取り出すために電流供給用を含めた3端子との合計5つの端子で構成されている。このため、光ピックアップの厚み方向Thに対して、接続ピン19を1列に取り付けることができるので、薄いモジュールが実現できる。
Claim (excerpt):
光発生手段と、該光発生手段から出射された光を記録媒体上に集光させるレンズと、前記記録媒体からの反射光によってフォーカス誤差信号を生成する第1の検出手段と、前記反射光のプッシュプル信号によってラジアル誤差信号を生成するとともに前記反射光から情報信号を検出する第2の検出手段とを有する光ピックアップ装置において、前記第1の検出手段が、前記光発生手段と、前記反射光を受けて回折光を発生するホログラムと、該回折光を受光する第1の光検出器と、外部の回路に対する電気的入出力端子部とから構成される一体モジュールからなり、前記フォーカス誤差信号が、前記光発生手段に近接して配置された前記第1の光検出器で生成され、前記第2の検出手段が、前記ラジアル誤差信号を検出するための第2の光検出器と、前記情報信号を検出するための第3の光検出器とを有することを特徴とする光ピックアップ装置。
IPC (3):
G11B 7/09
, G11B 7/13
, G11B 7/135
FI (3):
G11B 7/09 A
, G11B 7/13
, G11B 7/135 Z
F-Term (37):
5D118AA02
, 5D118BA01
, 5D118BB02
, 5D118BF02
, 5D118BF03
, 5D118CC12
, 5D118CD02
, 5D118CD03
, 5D118CD08
, 5D118CF02
, 5D118CF03
, 5D118CF17
, 5D118DA20
, 5D118DA35
, 5D118DB02
, 5D118DB12
, 5D118DB16
, 5D118DB26
, 5D118DB27
, 5D119AA02
, 5D119AA04
, 5D119BA01
, 5D119BB05
, 5D119CA09
, 5D119DA01
, 5D119DA05
, 5D119EA02
, 5D119EA03
, 5D119FA05
, 5D119FA08
, 5D119JA15
, 5D119KA02
, 5D119KA08
, 5D119KA16
, 5D119KA17
, 5D119KA27
, 5D119KA28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
光ピックアップ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-213938
Applicant:シャープ株式会社
-
光ヘッド装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-015695
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
光ピックアップ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-051056
Applicant:株式会社三協精機製作所
Return to Previous Page