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J-GLOBAL ID：200903079007917873

測定点位置計測方法、測定点位置計測装置、曲面形状計測方法、曲面形状計測方法及びスクリーン手段

Inventor： 河村 努 ,  上杉 満昭
Applicant, Patent owner： JFEエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 細江 利昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002032231
Publication number (International publication number)：2003232615
Application date： Feb. 08, 2002
Publication date： Aug. 22, 2003
Summary：

【要約】【課題】 測定点の位置を簡単に計測する方法及び装置を提供する。【解決手段】 測定対象5上に所定間隔でスクリーン1を設置する。レーザ投光器2で、測定対象5上に設置されたスクリーンに沿って、レーザ光を投光する。また、スクリーン1上のLED3の位置を検出することによって、測定点の位置を求めることができる。スクリーン1には、TVカメラ7が据え付けられており、次のスクリーン1上でのレーザ光が反射するスポット位置とスクリーン上のLED3の位置を撮像し、レーザスポットとLEDの位置を算出して、相対位置を演算する。この結果により、直線の絶対位置基準としてのレーザ光に対して、各測定点でのズレ量を算出することによって、測定対象形状が、直線であるか、曲線であるかを計測することが可能である。

Claim (excerpt)：

測定点上に、当該測定点の位置を指し示す標点を有するスクリーンを設置し、レーザ光を前記スクリーンに照射し、前記スクリーン上で反射したレーザスポット光と前記標点を撮像し、撮像して得られた画像からレーザスポット位置と標点の位置を検出し、検出したこれらの位置からレーザスポットに対する標点の相対位置座標を算出し、算出した相対位置座標からレーザ光に対する測定点の相対位置を演算して、測定点の位置を計測することを特徴とする測定点位置計測方法。

IPC (4)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/26 ,  G01C 15/00 103

FI (4)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/26 H ,  G01C 15/00 103 Z ,  G01B 11/24 K

F-Term (25)：

2F065AA01 ,  2F065AA06 ,  2F065AA19 ,  2F065AA20 ,  2F065AA31 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065BB29 ,  2F065CC14 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF23 ,  2F065FF67 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ14 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL53 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31