Pat

J-GLOBAL ID：200903079018143799

物体観測装置および方法

Inventor： 三宅 民生 ,  石田 智也
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (1)： 青木 輝夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996132581
Publication number (International publication number)：1997049803
Application date： May. 01, 1996
Publication date： Feb. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】 部品実装基板のハンダ部位等の鏡面反射特性を有する部分を含む物体を観測して良否を判定検査する物体観測装置および方法に関し、メンテナンス性の向上、低コスト化、検査の高精度化等を図ることを目的とする。【解決手段】 物体の観測対象部位12に所定の光路を経て光を投光する投光手段1〜3と、前記観測対象部位で反射されて入射された前記光を入射方向に反射する再帰性反射手段4〜7と、前記再帰性反射手段および前記観測対象部位で反射され前記所定の光路を介して入射された前記光を受光する受光手段8〜9とを具備する。

Claim (excerpt)：

物体の観測対象部位に所定の光路を経て光を投光する投光手段と、前記観測対象部位で反射されて入射された前記光を入射方向に反射する再帰性反射手段と、前記再帰性反射手段および前記観測対象部位で反射され前記所定の光路を介して入射された前記光を受光する受光手段と、を具備することを特徴とする物体観測装置。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  H05K 3/34 512

FI (3)：

G01N 21/88 F ,  G01B 11/24 C ,  H05K 3/34 512 A