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J-GLOBAL ID：200903079042706591

質量校正用試料

Inventor： 松本 明
Applicant, Patent owner： 大阪瓦斯株式会社
Agent (1)： 鍬田 充生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992118278
Publication number (International publication number)：1993288651
Application date： Apr. 10, 1992
Publication date： Nov. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】 高質量領域を含む広い質量範囲に亘って整数質量の校正ができ、しかも多くのイオン化モードで1/1000単位の質量の測定を可能とする質量校正用試料を提供する。【構成】 フッ化ピッチを主成分とする質量校正用試料。フッ化ピッチとして、ピッチとフッ素とを0〜350°C程度で反応させた固体状フッ化ピッチ、及びこれをさらに昇温して得られる液状フッ化ピッチが使用できる。特に、固体状フッ化ピッチと液状フッ化ピッチとの混合物が好ましい。フッ化ピッチは、高質量領域、例えばm/z値が800以上の範囲においても安定したピークが得られる。

Claim (excerpt)：

フッ化ピッチを主成分とする質量校正用試料。

IPC (3)：

G01N 1/00 102 ,  C10C 3/04 ,  G01N 27/62