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J-GLOBAL ID:200903079043640942
発光又は蛍光信号検出用の光学式測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小田島 平吉 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998301739
Publication number (International publication number):1999241947
Application date: Oct. 09, 1998
Publication date: Sep. 07, 1999
Summary:
【要約】【課題】 感度を高める。【解決手段】 微量検定の光信号検出用測定装置において、信号発生試験対象物5は平坦なキャリヤー4の調査面に配列される。平坦なキャリヤー4は、特に生物学的な対象物用の微量測定板である。基本的に、測定システムは、測定される試験対象物4の大きさを、対象物の全てが2次元の感光式画像センサー6上に完全に画像化されるように縮小する光学式の画像化装置を備える。
Claim (excerpt):
信号を発生する試験対象物が平面キャリヤーの調査面上に配列され、測定すべき試験対象物の寸法を、対象物の全部を2次元の感光画像センサー上において完全に画像化する方法で縮小する光学式画像化装置を備えた微量検定の光信号検出用測定システムであって、光学式画像化装置は大面積の端部と小面積の端部とを有する高解像度ガラスファイバーテーパー要素を備え、そして端面は大面積の端面が少なくもキャリヤーの調査面に対応し、かつ小面積の端面が画像センサーの大きさに対応し、キャリヤーの調査面を画像センサー上に完全に画像化するために端面の比率が光学式画像化装置の縮小率を生成することを特徴とする前記測定システム。
IPC (4):
G01J 1/02
, G01N 21/17
, G01N 21/64
, G02B 6/04
FI (4):
G01J 1/02 M
, G01N 21/17 A
, G01N 21/64 Z
, G02B 6/04 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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特開昭63-298137
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特表平2-500613
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半球状に散乱あるいは放射された光を高速に測定する装置および方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平6-513427
Applicant:ブロートリサーチオーガニゼイションインコーポレイテッド
-
蛍光検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-142922
Applicant:古河電気工業株式会社
-
CCDセンサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-322517
Applicant:日本電気株式会社
-
特開昭49-128754
-
特開昭59-162426
-
特表平5-505457
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