Pat
J-GLOBAL ID：200903079098417703

太陽電池特性の測定方法

Inventor：
吉野 豪人

About 吉野 豪人

, 
大塚 崇志

About 大塚 崇志


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (1)： 福森 久夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997174890
Publication number (International publication number)：1999026785
Application date： Jun. 30, 1997
Publication date： Jan. 29, 1999
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、大面積の太陽電池特性(以下特性と呼ぶ)を、太陽電池の面積より小さな照射面積の光源を用いて求めることが可能な測定方法を提供する。【解決手段】 本発明の方法は、太陽電池の受光面の一部にのみ光を照射した状態で該特性を調べる第1の工程と、前記太陽電池の受光面に全く光を照射しない状態で該特性を調べる第2の工程と、前記第2の工程で得た各電圧における電流値に、前記第1の工程で受光面のうち光が照射されなかった領域(以下暗領域と呼ぶ)の、全受光面に対する割合を、乗じて暗領域に相当する該特性を求める第3の工程と、前記第1の工程で得た各電圧における電流値から、前記第3の工程で得た各電圧における電流値を、同電圧同士減じて前記暗領域の該特性の影響を除去し、前記第1の工程で受光面のうち光の照射された領域(以下明領域と呼ぶ)が単独で切り離された状態に相当する該特性を求める第4の工程とを備える。
Claim (excerpt)：
太陽電池の受光面の一部にのみ光を照射した状態で該太陽電池の電圧・電流特性を調べる第1の工程と、前記太陽電池の受光面に全く光を照射しない状態で該太陽電池の電圧・電流特性を調べる第2の工程と、前記第2の工程で得られた各電圧における電流値に、前記第1の工程において受光面のうち光が照射されなかった領域(以下、暗領域と呼ぶ)の、全受光面に対する割合を、乗じて暗領域に相当する太陽電池の電圧・電流特性を求める第3の工程と、前記第1の工程で得られた各電圧における電流値から、前記第3の工程で得られた各電圧における電流値を、同電圧同士減じて前記暗領域の電圧・電流特性の影響を除去し、前記第1の工程において受光面のうち光の照射された領域(以下、明領域と呼ぶ)が単独で切り離された状態に相当する太陽電池の電圧・電流特性を求める第4の工程と、を備えたことを特徴とする太陽電池特性の測定方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM