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J-GLOBAL ID：200903079155452456

光周波数測定装置及び光周波数測定方法

Inventor： 仁木 尚治
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 龍華 明裕
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2004017962
Publication number (International publication number)：WO2005093385
Application date： Dec. 02, 2004
Publication date： Oct. 06, 2005
Summary：

本発明の光周波数測定装置は、基準光の波長である基準波長に基づいて、被測定入力光の粗光周波数(Fw)を算出する粗光周波数測定器と、基準光の周波数である基準周波数(Fs)に基づいて、繰り返し周波数(fs1)で異なる複数の光周波数成分を含むパルス光を発生するパルス光源と、複数の光周波数成分のうちで光周波数が被測定入力光の光周波数と最も近いパルス光の光周波数と、被測定入力光の光周波数との差周波数である第1差周波数(fc)をもつ第1ビート信号を発生する第1ビート信号発生部と、第1ビート信号の第1差周波数(fc)を測定する周波数測定器と、粗光周波数(Fw)、基準周波数(Fs)、繰り返し周波数(fs1)、及び第1差周波数(fc)に基づいて、精光周波数(Fx)を算出する演算部とを備える。

Claim (excerpt)：

被測定入力光の精光周波数(Fx)を測定する光周波数測定装置であって、 基準光の波長である基準波長に基づいて、前記被測定入力光の粗光周波数(Fw)を算出する粗光周波数測定器と、 前記基準光の周波数である基準周波数(Fs)に基づいて、繰り返し周波数(fs1)で異なる複数の光周波数成分を含むパルス光を発生するパルス光源と、 前記複数の光周波数成分のうちで光周波数が前記精光周波数(Fx)と近い前記パルス光の光周波数と、前記精光周波数(Fx)との差周波数である第1差周波数(fc)をもつ第1ビート信号を発生する第1ビート信号発生部と、 前記第1ビート信号の前記第1差周波数(fc)を測定する周波数測定器と、 前記粗光周波数(Fw)、前記基準周波数(Fs)、前記繰り返し周波数(fs1)、及び前記第1差周波数(fc)に基づいて、前記精光周波数(Fx)を算出する演算部と を備える光周波数測定装置。

IPC (1)：

G01J 9/04

FI (1)：

G01J9/04