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J-GLOBAL ID：200903079341962375

蛍光寿命測定装置

Inventor： 藤本 正俊 ,  青島 紳一郎 ,  細田 誠 ,  土屋 裕
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999140118
Publication number (International publication number)：2000329695
Application date： May. 20, 1999
Publication date： Nov. 30, 2000
Summary：

【要約】【課題】 蛍光の時間変化を高時間分解能で効率的に測定することができる蛍光寿命測定装置を提供する。【解決手段】 パルス光源11からの光を光分岐器12によって2つの光束に分岐し、一方を、ゲート光学系2を介して蛍光の観測に用いるゲートパルスとして検出媒体6に入射させ、他方を、励起光学系3を介して蛍光の生成に用いる励起パルスとして被測定物質4に入射させて、被測定物質4からの蛍光を蛍光光学系5を介して検出媒体6に照射させる。ここで、ゲートパルスによって検出媒体6中に生成された非線形光学効果による屈折率変化が誘起された領域を通過した蛍光成分を、偏光状態の変化を利用して蛍光像として観測し、その位置変化を時間変化に対応させて観測することによって、蛍光の時間変化、特に蛍光寿命の高時間分解能での測定が可能となる。

Claim (excerpt)：

パルス光源によって供給された光パルスから、それぞれの出力タイミングが同期された第1の光束と第2の光束とを生成して出力する光源部と、光パルスのパルス位置において、その強度に応じた複屈折を示す検出媒体と、前記第1の光束に基づいてゲートパルスを形成し、前記検出媒体に前記ゲートパルスを入射するゲート光学系と、前記第2の光束に基づいて励起パルスを形成し、これを被測定物質に入射させて蛍光を発生させるための励起光学系と、前記検出媒体に前記ゲートパルスが入射されることによって非線形光学効果による屈折率変化が誘起された光飛跡領域を含む前記検出媒体の所定領域に前記被測定物質からの前記蛍光を照射する蛍光光学系と、前記検出媒体の所定領域を通過した前記蛍光を検出する光検出部と、を備え、前記ゲート光学系は、前記ゲートパルスを所定の偏光状態とするためのゲートパルス偏光手段と、前記ゲートパルスを前記検出媒体に所定の入射条件によって入射させる入射光学系とを有し、前記蛍光光学系は、前記蛍光を所定の偏光状態とするための蛍光偏光手段を有し、前記光検出部は、前記検出媒体の所定領域を通過した前記蛍光のうち、所定の偏光成分のみを透過させる検光手段と、前記検光手段を透過した前記蛍光を検出・観測する光検出手段と、前記検出媒体の所定領域を通過し前記検光手段を透過した前記蛍光を前記光検出手段に結像させて蛍光像とする結像手段と、を有することによって、前記光飛跡領域において複屈折性を示すパルス位置が時間とともに移動することを利用して、前記蛍光像により前記蛍光の時間変化を測定することを特徴とする蛍光寿命測定装置。

F-Term (17)：

2G043AA01 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043GB03 ,  2G043GB19 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043KA05 ,  2G043KA07 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043NA04