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J-GLOBAL ID：200903079470461420

品質データ表示方法

Inventor： 津山 努 ,  原田 敏正 ,  下社 貞夫 ,  日向野 幸一 ,  伊津井 孝三
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991219667
Publication number (International publication number)：1993061877
Application date： Aug. 30, 1991
Publication date： Mar. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 製品の故障発生情報から、不良要因・故障発生傾向等を分析する際、分析結果を表す画面上に検索や分析の経緯を履歴として表示すること。【構成】 手続き1での設定検索条件に基づき検索された結果は原始データセット6としてコアメモリに書き込まれる。書き込まれたデータセットを対象として、手続き7で指定された解析法により解析が行われる。その際、手続き8で解析対象のパラメータが選択されるが、それらに基づき解析手続き9のデータ処理が行われるものである。解析手続き9では指定された解析法に従って数値演算を行い、演算結果は解析法に従った表示出力様式12により出力表示される。

Claim (excerpt)：

製品の故障に関して施した処理に関し、その日付、現象および処置等の故障発生に関する情報を現地より集め、データベースに蓄積し、その一部または全部を対象として、製品に関する不良の要因・故障発生の傾向等を分析する際、分析結果を表す画面上に検索や分析の経緯を履歴として表示することを特徴とする品質データ表示方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-032650
  
• 特開昭63-040962