センサおよびこれを利用した測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高橋明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998136994
Publication number (International publication number)：1999326193
Application date： May. 19, 1998
Publication date： Nov. 26, 1999
Summary：

【要約】【課題】高感度なセンサ及び測定装置を提供する。【解決手段】金属表面に存在する金属微粒子の反射スペクトルが、周辺の誘電率に応じて敏感に変化する現象を利用する。【効果】高感度で、機械的な動作を必要としない簡素化されたセンサを構成できる。

Claim (excerpt)：

平坦な基板、該基板上にほぼ均一に配列された高分子または非金属の絶縁体微小球層よりなり、該絶縁体微小球の基板と反対側の外面のほぼ半分の面上に薄い自由電子金属微粒子層を備えることを特徴とするセンサ。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

基盤及びその製造方法、光ファイバプローブ及びその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-301937 Applicant：財団法人神奈川科学技術アカデミー
超微粒子の調製方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-148935 Applicant：株式会社日立製作所
赤外線吸収強化分光装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-182097 Applicant：渡邉敦夫

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